離子束沉積系統(tǒng)(IonBeamDepositionSystem)是利用離子束轟擊固體表面，通過(guò)化學(xué)反應(yīng)或物理作用使材料原子聚積在基片表面形成薄膜的一種薄膜制備技術(shù)。以下是離子束沉積系統(tǒng)的使用方法：1.準(zhǔn)備工作首先需要準(zhǔn)備好需要沉積的基片和目標(biāo)材料。將基片清洗干凈，并去除表面的污垢和雜質(zhì)。目標(biāo)材料則需要切割成合適大小并進(jìn)行打磨處理。2.裝載基片和目標(biāo)材料將準(zhǔn)備好的基片放入樣品架中，并通過(guò)真空泵將其置于所需的低壓環(huán)境中。然后將目標(biāo)材料放置于離子源旁邊的樣品架上。3.啟動(dòng)系統(tǒng)啟動(dòng)系...

離子束沉積(IonBeamDeposition，IBD)是一種常用的薄膜制備技術(shù)，它利用離子束轟擊靶材表面，從而使其原子或分子在表面沉積成薄膜。離子束沉積具有高度可控性、良好的均勻性和較低的表面粗糙度等優(yōu)點(diǎn)，因此在微電子學(xué)、光學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。離子束沉積的基本原理是利用離子束能量將靶材表面的原子或分子打碎，并沉積在基底上形成薄膜。離子束沉積有兩種方式，即單源離子束沉積和多源離子束沉積。單源離子束沉積是指利用單個(gè)離子源產(chǎn)生離子束，直接轟擊靶材表面進(jìn)行沉積;而多源離...

三維光學(xué)輪廓儀對(duì)各種產(chǎn)品，部件和材料的表面輪廓，粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析的精密儀器。下面讓我們一起來(lái)了解一下三維光學(xué)輪廓儀的主要功能吧：1、共聚焦共聚焦技術(shù)可以用來(lái)測(cè)量各類樣品表面的形貌。它比光學(xué)顯微鏡有更高的橫向分辨率,可達(dá)0.10um。利用它可實(shí)現(xiàn)臨界尺寸的測(cè)量。當(dāng)用150倍、0.95數(shù)值孔徑的鏡頭時(shí)，共聚焦在光滑表面測(cè)量斜率達(dá)70°(粗糙表面達(dá)86°)。共聚焦算法保證Z...

光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。三維光學(xué)輪廓儀是對(duì)物體的輪廓、三維尺寸、三維位移進(jìn)行測(cè)試與檢驗(yàn)的儀器，作為精密測(cè)量?jī)x器在汽車制造和鐵路行業(yè)的應(yīng)用十分廣泛。是通過(guò)儀器的觸針與被測(cè)表面的滑移進(jìn)行測(cè)量的，是接觸測(cè)量。其主要優(yōu)點(diǎn)是可以直接測(cè)量某些難以測(cè)量到的零件表面，如孔、槽等的表面粗糙度，又能直接按某種評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)讀數(shù)或是描繪出表...

高精度輪廓儀能描繪工件表面波度與粗糙度，并給出其數(shù)值的儀器，采用精密氣浮導(dǎo)軌為直線基準(zhǔn)。輪廓測(cè)試儀是對(duì)物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測(cè)試與檢驗(yàn)的儀器，作為精密測(cè)量?jī)x器在汽車制造和鐵路行業(yè)的應(yīng)用十分廣泛。輪廓儀是一種兩坐標(biāo)測(cè)量?jī)x器，儀器傳感器相對(duì)被測(cè)工件表而作勻速滑行，傳感器的觸針感受到被測(cè)表而的幾何變化，在X和Z方向分別采樣，并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，該電信號(hào)經(jīng)放大和處理，再轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)儲(chǔ)存在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的存儲(chǔ)器中，計(jì)算機(jī)對(duì)原始表而輪廓進(jìn)行數(shù)字濾波，分離掉表而粗糙度成分后再進(jìn)行計(jì)算...

三維光學(xué)輪廓儀檢測(cè)設(shè)備主要對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。三維光學(xué)輪廓儀檢測(cè)設(shè)備是一款非接觸測(cè)量樣品表面形貌的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，主要對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。下面讓我們一...

納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)力與壓入深度的曲線計(jì)算得出，無(wú)需通過(guò)顯微鏡觀察壓痕面積。下面讓我們一起來(lái)了解一下微納米壓痕儀的主要功能吧：1.連續(xù)剛度測(cè)量(CSM)CSM技術(shù)包括在壓痕過(guò)程中測(cè)量力學(xué)性能隨深度、力、時(shí)間或頻率變化的函數(shù)。該方案采用恒定應(yīng)變速率試驗(yàn)，測(cè)量硬度和模量作為深度或載荷的函數(shù)，是學(xué)術(shù)界和工業(yè)界常用的試驗(yàn)方法。CSM還用于其他高級(jí)測(cè)試，包括用于存儲(chǔ)和損耗模量測(cè)量的ProbeDMA™方法和AccuFilm&t...

高精度原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式，非接觸模式和敲擊模式。1、接觸模式從概念上來(lái)理解，接觸模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那樣，AFM在整個(gè)掃描成像過(guò)程之中，探針針尖始終與樣品表面保持緊密的接觸，而相互作用力是排斥力。掃描時(shí)，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結(jié)構(gòu)，因此力的大小范圍在10-10～10-6N。若樣品表面柔嫩而不能承受這樣的力，便不宜選用接觸模式對(duì)樣品表面進(jìn)行成像。2、非接觸模...